Electron microscopy and X-ray diffraction studies of polyaniline films / V. V. Shevchenko, L. V. Yemelina, Ya. I. Kogan et al.
Язык: английский.Выходные данные: Chernogolovka : Ин-т хим. физики, 1989Физическая характеристика: 5 с. : ил. ; 21 см см.Серия: Preprint Библиография: Библиогр.: с. 5.Предметная рубрика - Тема: Полианилиновые пленки -- Исследования -- Оптические методы Другие классификации: ( rubbk ) Л719.434.4-1с34 Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Иностранный книжный фонд | Т45 Д-4/413 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 9284944-10 |
Библиогр.: с. 5