Микроскоп сравнения для цехового контроля высоких классов чистоты поверхности деталей часов и приборов / Главниипроект при Госплане СССР
Язык: русский.Выходные данные: Москва : ЦБТИ приборостроения и средств автоматизации ЦНИИКА, 1958Физическая характеристика: 13 с., 1 л. черт. : ил. ; 22 см.Примечания: На обл. авт. не указан.Предметная рубрика - Тема: Качество поверхности при обработке металлов резанием -- Технический контроль | Микроскопы интерференционные, сравнительные Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 3этаж Хран | 59-6/1234 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 8987591-10 |
На обл. авт. не указан