Experimental findings on self-recovery and improvement of representative parameters of some semiconductor devices as irradiated in fast neutron flux / W. Hammer, Sl. Sterlinski, V. M. Nazarov, Z. Bober
Язык: английский ; резюме, русский.Выходные данные: Дубна : Объед. ин-т ядер. исслед., 1990Физическая характеристика: 6 с. : граф. ; 21 см см.Серия: Объединенный институт ядерных исследований, Дубна ; Е14-90-345Примечания: На 3-й с. обл.: Экспериментальные результаты измерения саморегенерации и улучшения основных параметров некоторых полупроводниковых приборов после облучения потоком быстрых нейтронов / Хаммер, В. и др.; Рез. на рус. яз.; Submitted to "Nuclear instruments a. methods".Библиография: Библиогр.: с. 6.Предметная рубрика - Тема: Полупроводниковые приборы -- Влияние ионизирующих излучений Другие классификации: ( rubbk ) З852-07 Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Иностранный книжный фонд | Т95 Д-4/292 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 9298419-10 |
На 3-й с. обл.: Экспериментальные результаты измерения саморегенерации и улучшения основных параметров некоторых полупроводниковых приборов после облучения потоком быстрых нейтронов / Хаммер, В. и др.
Рез. на рус. яз.
Submitted to "Nuclear instruments a. methods"
Библиогр.: с. 6