Инженерные основы измерений нанометровой точности : [для студентов и преподавателей технических университетов] / Р. Лич ; пер. с англ. А.В. Заболоцкого
Язык: русский.Выходные данные: Долгопрудный : Интеллект, 2012Физическая характеристика: 399 с. : ил. ; 22 см.ISBN: 9785915591195 Библиография: Библиогр. в конце гл..Предметная рубрика - Тема: Нанометрология УДК: 006.91:620.3, 4, rusДругие классификации: ( rubbk ) 30.6 ; ( rubbk ) 30.10 ; Ж10 Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи
Библиогр. в конце гл.