<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<mods xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns="http://www.loc.gov/mods/v3" version="3.1" xsi:schemaLocation="http://www.loc.gov/mods/v3 http://www.loc.gov/standards/mods/v3/mods-3-1.xsd"><titleInfo type="abbreviated"><title>Москва Сеул</title></titleInfo><name type="personal"><namePart>20190219d2018    u  y0rusy50      ca</namePart><role><roleTerm authority="marcrelator" type="text">creator</roleTerm></role></name><name type="personal"><namePart>Дунин-Барковский</namePart><namePart type="termsOfAddress">И. И. канд. техн. наук</namePart></name><typeOfResource>text</typeOfResource><originInfo><issuance>monographic</issuance></originInfo><physicalDescription><extent>В вып. дан. авт.: Дунин-Барковский И.И., к.т.н., доц.</extent></physicalDescription>
    Печатные платы
    Пайка
    Дефектоскопия
    Оптические методы
    2402925
    RU\NLR\AUTH\6601651852
  
    Электронные приборы
    Детали
    Производство
    Автоматический контроль
    1987137
    RU\NLR\AUTH\661197716
  <identifier type="lccn">978-5-00122-863-9</identifier><recordInfo><recordChangeDate encoding="iso8601">20190319152844.0</recordChangeDate><recordIdentifier>RU\NLR\BIBL_A\011940451</recordIdentifier></recordInfo></mods>
