TY  - BOOK
AU  - Попков, К. А.
TI  - О тестах замыкания для контактных схем
T2  - Препринт
VL  - № 14 за 2016 г.
PY  - 2016///
CY  - Москва
PB  - ИПМ РАН
KW  - Логические устройства
KW  - Тестирование
KW  - RU\NLR\AUTH\661467364
KW  - 510
KW  - З973.2-077
N2  - Библиогр.: с. 19 (10 назв.)
ER  -