TY  - BOOK
AU  - Лидер, В. В.
TI  - Рентгеновская дифракционная топография
T2  - Серия Наука
SN  - 978-5-7205-1658-1
PY  - 2020///
CY  - Москва
PB  - Юстицинформ
KW  - Кристаллы
KW  - Дефекты
KW  - Рентгеновская топография
KW  - nlr_sh1
KW  - nlr_sh2
KW  - RU\NLR\AUTH\663406
KW  - В371.213
N2  - Библиогр.: с. 98-118 (547 назв.)
ER  -