TY  - BOOK
AU  - Васильев, Ф. В.
TI  - Тестирование интегральных микросхем
SN  - 9785990829107
PY  - 2016///
CY  - Москва
PB  - Технология
KW  - Интегральные схемы
KW  - Технический контроль
KW  - Учебные издания для высших учебных заведений
KW  - nlr_sh1
KW  - nlr_sh2
KW  - RU\NLR\AUTH\66479068
KW  - 621.38
KW  - З844.15-06-7я73-1
N2  - Библиогр.: с. 20 (4 назв.)
ER  -