TY  - BOOK
AU  - Александров, О. В.
TI  - Радиационные процессы в микроэлектронике
SN  - 978-5-7629-3023-9
PY  - 2022///
CY  - Санкт-Петербург
PB  - Изд-во СПбГЭТУ "ЛЭТИ"
KW  - МОП-приборы
KW  - Учебные издания для высших учебных заведений
KW  - Радиационная стойкость
KW  - RU\NLR\AUTH\66720074
KW  - Биполярные интегральные схемы
KW  - RU\NLR\AUTH\661324356
KW  - Кремниевые структуры
KW  - Электрофизические свойства
KW  - Влияние ионизирующих излучений
KW  - RU\NLR\AUTH\6601733359
KW  - 621.382(075.8)
KW  - 4
KW  - 32.853я73
KW  - rubbks
KW  - З852.39-019.8я73-1
KW  - З844.15-019.8я73-1
KW  - З843.322.406.33я73-1
N2  - Библиогр.: с. 42 (14 назв.)
ER  -