TY  - BOOK
AU  - Брандон, Д.
AU  - Каплан, У.
TI  - Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
T2  - Мир материалов и технологий
VL  - 6.02
SN  - 5-94836-018-0
PY  - 2006///
CY  - Москва
PB  - Техносфера
KW  - Материалы
KW  - Микроструктура
KW  - Учебные издания для высших учебных заведений
KW  - nlr_sh2
KW  - RU\NLR\auth\661448193
KW  - Ж304я73-1
N2  - Библиогр. в конце гл; Предм. указ.: с. 376-377
ER  -