01665nam0a2200313 4500 RU\NLR\bibl\58379 20260405074711.0 5-7681-0031-8 100 RU 98-44482 2134 (NLR Aleph) 000056932 308219 308219 19991112d1997 |||y0rusy50 ca rus RU a ||||||||| Математическое моделирование параметров качества и управления надежностью микропроводных межсоединений интегрированной микроэлектронной аппаратуры Е.М. Терещенко, В.М. Емельянов М-во общ. и проф. образования Рос. Федерации, Курский гос. техн. ун-т Курск Курский гос. техн. ун-т 1997 104 с. ил. 21 Библиогр. : с. 98-103 Радиоэлектронная аппаратура миниатюрная Контакты Надежность 2126937 RU\NLR\auth\661283710 З844.1-049.7-021.1 Терещенко Е. М. Евгений Михайлович 070 070 rus ca Емельянов В. М. канд. техн. наук, микроэлектроника Виктор Михайлович RU\NLR\auth\7726436 9475 RU NLR 19991112 PSBO RU NLR 19991112 NLR 99-3/14352 BOOK NB 2013-10-26 NLR01 NLR01 RF8 56932-10 99-3/14352 0 BOOK 99314352_