TY  - BOOK
AU  - Смирнов, В. И.
TI  - Неразрушающие методы контроля параметров полупроводниковых материалов и структур
SN  - 9785979509426
PY  - 2012/// [т.е. 2011]
CY  - Ульяновск
PB  - УлГТУ
KW  - Полупроводники
KW  - Параметры
KW  - Измерение
KW  - Неразрушающие методы
KW  - Учебные издания для высших учебных заведений
KW  - nlr_sh2
KW  - RU\NLR\auth\66890193
KW  - 32.843.3я73
KW  - LBC/RL
KW  - rubbk
KW  - З843.306-1-7с.я73-1
N2  - Библиогр.: с. 75 (14 назв.)
ER  -