TY  - BOOK
AU  - Калябина, И.А.
TI  - Влияние технологических факторов на интенсивность электромиграции в межсоединениях интегральных схем
T2  - ..
VL  - Вып.12381986, Вып.18
PY  - 1986///
CY  - Б. м.
ER  -