TY  - BOOK
AU  - Глудкин, О.П.
AU  - Русанова, А.Л.
TI  - Механизм деградации и отказов микроэлементов и интегральных микросхем, обусловленные влиянием климатических условий
T2  - ..
VL  - Вып.7251980, Вып.2
PY  - 1980///
CY  - Б. м.
ER  -