20060606d2006 |||y0rusy50 cacreatortextmonographicВ надзаг.: Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе РАН, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Новгор. гос. ун-т им. Ярослава МудрогоЧасть текста на англ. яз. Электронная микроскопия Съезды, совещания и т.п. 904131 RU\NLR\auth\669217 Твердые тела Съезды, совещания и т.п. Исследование Дифракционные методы 2097255 RU\NLR\auth\661268819 Дифрактометрия Съезды, совещания и т.п. 1000140 RU\NLR\auth\66379135 Физико-математические науки -- Физика -- Физика твердого тела. Кристаллография -- Структура твердых тел -- Структурный анализ твердых тел -- Материалы конференцииModern methods of diffraction data analysis5-89896-300-620250614212156.0RU\NLR\bibl\973274