TY  - BOOK
AU  - Владимиров, А. С.
AU  - Гольдштейн, Р. В.
AU  - Житников, Ю. В.
TI  - Моделирование процессов электромиграции и зарождения дефектов в токопроводящих дорожках интегральных микросхем
T2  - Препринт
VL  - N 652
PY  - 1999///
CY  - М.
PB  - ИПМ
KW  - Интегральные схемы
KW  - Проводящие элементы
KW  - Разрушение
KW  - RU\NLR\auth\661302770
KW  - З844.15-049.9-01
N2  - Библиогр.: с. 62-65 (42 назв.)
ER  -