01280nam0a22002651  4500001001100000005001700011021001900028035002600047100004100073101000800114102000700122105001800129200028100147210005600428215002300484320005300507606012600560606014600686700006100832701002400893701003800917801001800955801002200973852001900995rc\312595720120615094936.9  aRUb[76-37954]  a(NLR Aleph) 007313297  a20120615g19751976|||y0rusy50      ca0 arus  aRU  aa   z   |||||1 aРадиационная стойкость полупроводниковых приборов и интегральных схемe[Учеб. пособие]fЛ.Н. Патрикеев, Б.И. Подлепецкий, В.Д. ПоповgМоск. инж.-физ. ин-т  aМоскваcМИФИd1975 (вып. дан. 1976)  a127 с.cил.d20  aСписок лит.: с. 124-126 (29 назв.)  aПолупроводниковые приборыxДействие ионизирующих излучений2psbo  aМикроэлектронные схемы, интегральныеxДействие ионизирующих излучений2psbo 1aПатрикеевbЛ. Н.gЛев Николаевич 1aПоповbВ. Д. 1aПодлепецкийbБ. И. 0aRUbNLRgpsbo 1aRUbELAR2rusmarc  aNLRj76-3/6786