TY  - BOOK
AU  - Чернышев, А.А.
TI  - Перемежающие и устойчивые отказы в цифровых интегральных микросхемах при воздействии ионизирующего излучения
T2  - Зарубежная электронная техника
VL  - № 7 (302)
PY  - 1986///
CY  - М.
PB  - Изд-во ЦНИИ "Электроника"
N2  - Библиогр.: с. 162
ER  -