TY  - BOOK
AU  - Брайко, Л.Г.
AU  - Блеялкина, Л.Н.
AU  - Веснина, А.И.
TI  - Анализ брака и отказов интегральных схем
T2  - Обзоры по электронной технике
VL  - Вып. 655Вып. 2
PY  - 1979///
CY  - Москва
PB  - ЦНИИ "Электроника"
N2  - Библиогр.: с. 41-44
ER  -