TY  - BOOK
AU  - Розенблат, М.А.
AU  - Юрченко, С.Е.
TI  - Надежность ЗУ на ЦМД
T2  - Зарубежная электронная техника
VL  - Вып. 11 (294)
PY  - 1985///
CY  - М.
PB  - ЦНИИ "Электроника"
N2  - Библиогр.: с. 129-134; Описано по обл. На тит. л. только загл. сер
ER  -