TY  - BOOK
AU  - Бондаренко, В. М.
TI  - ДИАГНОСТИКА интегральных микросхем при внешних воздействиях
T2  - Препринт
VL  - 533
PY  - 1987///
CY  - Киев
PB  - ИЭД
N2  - Библиогр.: с. 26
ER  -