TY - BOOK AU - Зилинг, К. К. AU - Солдатенков, И. С. AU - Терпугов, Н. В. TI - Измерение глубины рельефа фазовых киноформных структур T2 - Препринт VL - № 28 PY - 1988/// CY - Новосибирск PB - Ин-т физики полупроводников N2 - Библиогр.: с. 25 ER -