TY  - BOOK
AU  - Зуев, В.В.
AU  - Петровский, А.Н.
AU  - Сальник, А.О.
TI  - Анализ свойств полупроводников методом объемной фотодефлекционной спектроскопии
T2  - Препринт
VL  - 046-87
PY  - 1987///
CY  - М.
PB  - МИФИ
N2  - Библиогр.: с. 22
ER  -