TY  - BOOK
AU  - Маклин, Х.Т.
AU  - Лэмперт, Х.М.
AU  - Бретс, Г.Р.
AU  - Бест, Г.Е.
TI  - Механизм старения отдельных видов полупроводниковых приборов, конденсаторов и резисторов и использование данных об этом процессе для разработки методики ускоренных испытаний на надежность
T2  - Перевод
VL  - № 3
PY  - 1967///
CY  - [Москва]
PB  - Б. и.
N2  - Библиогр.: с. 27-29
ER  -