01523nam0a22002651  4500001003100000005001700031035002600048100004100074101000800115102000700123105001800130200030700148210006600455215003000521225011400551300031400665300003100979320002901010606009901039686002101138701002201159801002701181801002301208852002601231RU\INFOCOMM_322\NLR\500018631220250613110823.0  a(NLR Aleph) 009575382  a20130219d1991    |||y0rusy50      ca0 aeng  aRU  ay   z   |||||1 aMeasurement of magnetic field penetration depth in niobium polycrystalline films by polarized neutron reflection methodeSubmitted to the proc. of the IInd Intern. conf. on surface X-ray a. neutron scattering, Bad Honnef, Germany, June 25-28, 1991fL. P. Chernenko, D. A. Korneev, A. V. Petrenko et al.  aДубнаcОбъед. ин-т ядер. исслед.d1991  a4 с.cграф.d21 см1 aОбъединенный институт ядерных исследований, ДубнаvЕ3-91-330  aНа 3-й с. обл.: Измерение глубины проникновения магнитного поля в ниобиевые поликристаллические пленки методом отражения поляризованных нейтронов / Черненко Л. П. и др.  aРез. на рус. яз.  aБиблиогр.: с. 40 aНиобийxТонкие пленки сверхпроводящие3RU\NLR\AUTH\66780387  aВ332.2132rubbk 1aČernenkobL. P. 1aRUbInfocommc20130219 0aRUbINFOCOMMgPSBO  aNLRjФз01 Д-4/6449