TY  - BOOK
AU  - Ševčenko, V. V.
TI  - Electron microscopy and X-ray diffraction studies of polyaniline films
T2  - Preprint
PY  - 1989///
CY  - Chernogolovka
PB  - Ин-т хим. физики
KW  - Полианилиновые пленки
KW  - Исследования
KW  - Оптические методы
KW  - nlr_sh1
KW  - Л719.434.4-1с34
KW  - rubbk
N2  - Библиогр.: с. 5
ER  -