Российская национальная библиография

Описание RUSMARC Карточка
Книга

Рентгеноструктурный и рентгенофазовый анализ. Аспекты точности : учебное пособие / Д. Н. Смирнова, Д. А. Прозоров, Н. Н. Смирнов ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Ивановский государственный химико-технологический университет

Автор: Смирнова, Дарья Николаевна Автор (Альтер.): Прозоров, Дмитрий Алексеевич ;Смирнов, Николай Николаевич (1980-) Язык: русский.Выходные данные: Иваново : Ивановский издательский дом, 2022Физическая характеристика: 115 с. : ил. ; 20 см.ISBN: 978-5-6049217-0-8 Резюме: В пособии обобщен материал по повышению точности получения и обработки экспериментальных данных в дифрактометрии поликристаллов. Рассмотрены типы дифрактометров и их основные характеристики, методы юстировки гониометров для получения оптимального разрешения и светосилы. Приведены приемы обработки данных эксперимента, безэталонные методы измерения межплоскостных расстояний, эталоны и их применение, погрешности измерения интенсивностей и способы их устранения. Предназначено для магистров, аспирантов и научных сотрудников университета.Библиография: Библиогр.: с. 112-115 (30 назв.).Предметная рубрика - Тема: Поликристаллы -- Рентгеноструктурный анализ -- Учебные издания для высших учебных заведений | Дифрактометры рентгеновские -- Учебные издания для высших учебных заведений УДК: 543.442.3(075.8), 4Другие классификации: В371.213я73-1 Тип экземпляра: Книга
Параметры
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Экземпляры
Тип экземпляра Текущая библиотека Шифр хранения Кол-во копий Статус Срок возврата Штрих-код
Книга РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 8этаж, Хран. 2023-3/2464 (Просмотр полки(Открывается ниже)) КН-П-8379 Доступно 1-4145786
Книга РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 8этаж, Хран. 2023-3/2464 (Просмотр полки(Открывается ниже)) КН-П-8379 Доступно 1-4145782

Библиогр.: с. 112-115 (30 назв.)

В пособии обобщен материал по повышению точности получения и обработки экспериментальных данных в дифрактометрии поликристаллов. Рассмотрены типы дифрактометров и их основные характеристики, методы юстировки гониометров для получения оптимального разрешения и светосилы. Приведены приемы обработки данных эксперимента, безэталонные методы измерения межплоскостных расстояний, эталоны и их применение, погрешности измерения интенсивностей и способы их устранения. Предназначено для магистров, аспирантов и научных сотрудников университета