Многопараметровая диагностика микро- и наноструктур / [Д.И. Биленко, С.Б. Венис, Д.В. Терин и др.] ; Саратовский гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского
Язык: русский.Выходные данные: Саратов : Изд-во Саратовского университета, 2015Физическая характеристика: 132, [1] с. : ил. ; 21 см.ISBN: 9785292043508 Серия: Материаловедение и технология новых материалов Примечания: Авт. указаны на обороте тит. с..Библиография: Библиогр.: с. 129-131.Предметная рубрика - Тема: Наноструктуры -- Техническая диагностика | Тонкие пленки -- Техническая диагностика УДК: 621.38Другие классификации: З844.1-082.051 Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи
Авт. указаны на обороте тит. с.
Библиогр.: с. 129-131