Описание RUSMARC Карточка
Книга

25th International conference on defects in semiconductors, St. Petersburg, Russia, July 20-24, 2009 : book of abstracts

Организация: International conference on defects in semiconductors (25 ; 2009 ; Saint-Petersburg), Автор Язык: английский.Выходные данные: St Petersburg : Ioffe inst., 2009Физическая характеристика: 466 c. ; 20 см.ISBN: 978-5-93634-048-2 Библиография: Библиогр. в конце тез.; Указ.: с. 451-466.Предметная рубрика - Тема: Полупроводники -- Съезды, совещания и т.п. -- Дефекты Другие классификации: В379.2я431(0) ; З843.304я431(0)Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга
Параметры
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Экземпляры
Тип экземпляра Текущая библиотека Шифр хранения Статус Примечания Срок возврата Штрих-код
Книга РНБ (Московский) Иностранный книжный фонд Ик 2009-3/746 (Просмотр полки(Открывается ниже)) Доступно ; 1086799

вт.ч. конкретные п/п

Библиогр. в конце тез.

Указ.: с. 451-466