Фундаментальные основы анализа нанопленок / Терри Л. Альфорд, Леонард К. Фельдман, Джеймс В. Майер ; пер. с англ.: А.Н. Образцов, М.А. Долганов ; науч. ред. рус. изд.: д.ф.-м.н., проф. А.Н. Образцов ; [МГУ им. М.В. Ломоносова, Науч.-образоват. центр по нанотехнологиям]
Язык: русский ; оригинала, английский.Выходные данные: Москва : Научный мир, 2012Физическая характеристика: 390 с. : ил. ; 25 см.ISBN: 9785915222259 Серия: Фундаментальные основы нанотехнологий Примечания: Загл. и авт. ориг.: Fundamentals of nanoscale film analysis / Terry L. Alford, Leonard C. Feldman, James W. Mayer.Библиография: Библиогр. в конце гл..Оригинал (перевода): Fundamentals of nanoscale film analysisПредметная рубрика - Тема: Тонкие пленки Другие классификации: З844.13 Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи
Загл. и авт. ориг.: Fundamentals of nanoscale film analysis / Terry L. Alford, Leonard C. Feldman, James W. Mayer
Библиогр. в конце гл.