Ваш поиск дал 3 результатов

Результаты поиска
	1.		КнигаКоличественный фазовый анализ тонкопленочных систем методом оже-электронной спектроскопии с использованием процедуры факторного анализа / В.Г. Бешенков, В.С. Солдатов, Ю.А. ШияновБешенков, В.Г.Солдатов, В.С.;Шиянов, Ю.А.1978Наличие: Экземпляры доступные для заказа: РНБ (Московский)Шифр хранения: 88-6/2386 (1). Добавить в подборку (удалить)
	2.		КнигаФазовый анализ тонких пленок по ожеспектрам / В.Г. Бешенков, Ч.В. Копецкий, Ю.А. ШияновБешенков, В.Г.Копецкий, Чеслав Васильевич;Шиянов, Юрий Андреевич1988Наличие: Экземпляры доступные для заказа: РНБ (Московский)Шифр хранения: 88-6/6206 (1). Добавить в подборку (удалить)
	3.		КнигаФазовый анализ тонких пленок по ожеспектрам / В.Г. Бешенков, Ч.В. Копецкий, Ю.А. ШияновБешенков, В.Г.Копецкий, Чеслав Васильевич;Шиянов, Юрий Андреевич1988Наличие: Экземпляры доступные для заказа: РНБ (Московский)Шифр хранения: 88-6/6206 (1). Добавить в подборку (удалить)

Связаться с нами:

тел.: 8-800-100-01-96 , 8(812)310-71-37

e-mail: office@nlr.ru