Механизм старения отдельных видов полупроводниковых приборов, конденсаторов и резисторов и использование данных об этом процессе для разработки методики ускоренных испытаний на надежность / Науч.-исслед. ин-т
Язык: русский.Выходные данные: [Москва] : Б. и., 1967Физическая характеристика: [1], 37 с. : ил. ; 30 см.Серия: Перевод ; № 3Примечания: Отпеч. множит. аппаратом; Пер. из: Proceedings of eleventh symposium on reliability and quality control", 1965; Перед загл. авт.: Г.Е. Бест, Г,Р. Бретс, Х.Т. Маклин, Х.М. Лэмперт.Библиография: Библиогр.: с. 27-29.Особенности распространения и использования: Рассылается по списку. Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Фонд литературы для служебного пользования | 50К/11948 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 8385173-10 |
Отпеч. множит. аппаратом
Пер. из: Proceedings of eleventh symposium on reliability and quality control", 1965
Перед загл. авт.: Г.Е. Бест, Г,Р. Бретс, Х.Т. Маклин, Х.М. Лэмперт
Библиогр.: с. 27-29
Рассылается по списку