Анализ брака и отказов интегральных схем : По материалам отеч. и зарубеж. источников за 1958-1978 гг. / [Л.Н. Блеялкина, Л.Г. Брайко, А.И. Веснина и др.]
Язык: русский.Выходные данные: Москва : ЦНИИ "Электроника", 1979Физическая характеристика: 44 с. : ил. ; 21 см.Серия: Обзоры по электронной технике ; Вып. 655Примечания: В надзаг. также: М-во электрон. пром-сти СССР.Библиография: Библиогр.: с. 41-44. Тип экземпляра: КнигаТип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
---|---|---|---|---|---|---|
Книга | РНБ (Московский) Русский журнальный фонд | П51/94 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 6489212-10 |
В надзаг. также: М-во электрон. пром-сти СССР
Библиогр.: с. 41-44