Анализ радиационных повреждений электронных схем при раздельном облучении их компонентов сколлимированным пучком заряженных частиц
Язык: русский.Выходные данные: Дубна : ОИЯИ, 1994Физическая характеристика: 5 с. : граф. ; 21 см.Серия: Сообщения Объединенного института ядерных исследований ; Р 14-94-355Примечания: Рез. на англ. яз..Библиография: Библиогр.: с. 4. Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 8этаж | 94-6/761 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 5302123-10 |
Рез. на англ. яз.
Библиогр.: с. 4