Описание RUSMARC Карточка
Книга

Закономерности образования структурных дефектов в полупроводниковых А2B6 / Ю. Ю. Логинов, Пол Д. Браун, Кен Дьюроуз

Автор: Логинов, Юрий Юрьевич (д-р физ.-мат. наук), Автор Автор (Альтер.): Браун, Пол Д., Автор ;
Дьюроуз, Кен, Автор
Язык: русский ; резюме, английский.Выходные данные: М. : Логос, 2003Физическая характеристика: 302, [1] с. : ил. ; 22 см.ISBN: 5-94010-214-X Примечания: Рез. на англ. яз..Библиография: Библиогр.: с. 282-303.Предметная рубрика - Тема: Полупроводники -- Дефекты Неконтролируемые предметные термины: Полупроводники - Дефекты | Кремний - Монокристаллы - ОблучениеУДК: 548.571:538.95, 3, rusДругие классификации: ( ) 31.15 ; ( ) 22.37 ; З843.325.04Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга
Параметры
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Экземпляры
Тип экземпляра Текущая библиотека Шифр хранения Кол-во копий Статус Срок возврата Штрих-код
Книга РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года 2003-5/6694 (Просмотр полки(Открывается ниже)) 1687 Доступно 1-2843281
Книга РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года 2003-5/6694 (Просмотр полки(Открывается ниже)) 1687 Доступно 567524

Рез. на англ. яз.

Библиогр.: с. 282-303