Обеспечение надежности полупроводниковых устройств : Пер. с англ. / Под общей ред. А.С. Савиной
Заглавие на дополнительном титульном листе: : Semiconductor reliabilityЯзык: русский ; оригинала, английский.Выходные данные: Москва : Мир, 1964Физическая характеристика: 464 с. : ил. ; 22 см.Примечания: Доп. тит. л.: Semiconductor reliability; Авт. глав: В. фон Алвен, Д. Пек, А. Прокассини и др..Библиография: Библиогр. в конце глав.Предметная рубрика - Тема: Полупроводниковые приборы -- Надежность -- Сборники Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 3этаж Хран | 65-5/386 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 9032191-10 |
Доп. тит. л.: Semiconductor reliability
Авт. глав: В. фон Алвен, Д. Пек, А. Прокассини и др.
Библиогр. в конце глав