Методы контроля нарушенных слоев при механической обработке монокристаллов / [А.И. Татаренков, К.Л. Енишерлова, Т.Ф. Русак, В.Н. Гриднев]
Язык: русский.Выходные данные: Москва : Энергия, 1978Физическая характеристика: 64 с. : ил. ; 20 см.Серия: Библиотека технолога радиоэлектронной аппаратуры ; Вып. 13Библиография: Список лит.: с. 59-63 (70 назв.).Предметная рубрика - Тема: Полупроводники -- Обработка -- Технический контроль Тип экземпляра: КнигаТип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
---|---|---|---|---|---|---|
Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж, Хран. | 78-4/28082 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 6693257-20 |
Список лит.: с. 59-63 (70 назв.)