Электронная микроскопия тонких кристаллов : Пер. с англ. / Под ред. [и с предисл.] Л.М. Утевского
Заглавие на дополнительном титульном листе: : Electron microscopy of thin crystalsЯзык: русский ; оригинала, английский.Выходные данные: Москва : Мир, 1968Физическая характеристика: 574 с. : ил. ; 27 см.Примечания: Доп. тит. л.: Electron microscopy of thin crystals. By P.B. Hirsch, A. Howie, R.B. Nicholson a. o.; Перед загл. авт.: П. Хирш, А. Хови, Р. Николсон и др..Библиография: Библиогр. в конце глав; Предм. указатель: с. 562-568.Предметная рубрика - Тема: Кристаллы -- Электронная микроскопия Тип экземпляра: КнигаТип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
---|---|---|---|---|---|---|
Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 3этаж Хран | 69-7/304 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 8920806-10 |
Доп. тит. л.: Electron microscopy of thin crystals. By P.B. Hirsch, A. Howie, R.B. Nicholson a. o.
Перед загл. авт.: П. Хирш, А. Хови, Р. Николсон и др.
Библиогр. в конце глав
Предм. указатель: с. 562-568