Российская национальная библиография

Описание RUSMARC Карточка
Книга

Элементы кристаллографии : учебное пособие; для обучающихся по направлениям подготовки магистратуры 28.04.03 Наноматериалы и 22.04.01 Материаловедение и технологии материалов / А. И. Шарапаев, Е. В. Юртов ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Российский химико-технологический университет имени Д. И. Менделеева

Автор: Шарапаев, Александр ИгоревичАвтор (Альтер.): Юртов, Евгений ВасильевичЯзык: русский.Выходные данные: Москва : Российский химико-технологический университет имени Д. И. Менделеева, Издательский центр, 2021Физическая характеристика: 112 с. : ил., табл. ; 20 см.ISBN: 978-5-7237-1885-2 Резюме: Разобраны способы описания и представления симметрических операций и их взаимодействия. Рассмотрены простые формы кристаллов и их реализация в наноматериалах. Приведены краткие сведения о теории пространственной симметрии кристаллов, основных элементах теории роста кристаллов и дифракционных методов исследования кристаллической структуры. Предназначено для обучающихся по направлениям подготовки магистратуры 28.04.03 "Наноматериалы" и 22.04.01 "Материаловедение и технологии материалов".Библиография: Библиогр.: с. 102 (8 назв.).Предметная рубрика - Тема: Кристаллография -- Учебные издания для высших учебных заведений УДК: 548(075.8), 4Другие классификации: В37я73-1 Тип экземпляра: Книга
Параметры
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Экземпляры
Тип экземпляра Текущая библиотека Шифр хранения Кол-во копий Статус Срок возврата Штрих-код
Книга РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 8этаж, Хран. 2022-3/1113 (Просмотр полки(Открывается ниже)) КН-П-5016 Доступно 1-3624540
Книга РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 8этаж, Хран. 2022-3/1113 (Просмотр полки(Открывается ниже)) КН-П-5016 Доступно 1-3624536

Библиогр.: с. 102 (8 назв.)

Разобраны способы описания и представления симметрических операций и их взаимодействия. Рассмотрены простые формы кристаллов и их реализация в наноматериалах. Приведены краткие сведения о теории пространственной симметрии кристаллов, основных элементах теории роста кристаллов и дифракционных методов исследования кристаллической структуры. Предназначено для обучающихся по направлениям подготовки магистратуры 28.04.03 "Наноматериалы" и 22.04.01 "Материаловедение и технологии материалов"