Ваш поиск дал 3 результатов

Сортировать
Результаты поиска
1.
КнигаFormation and annealing of defects in N-type silicon under combined gettering / N. T. Bagraev, L. E. Klyachkin, A. M. Malyarenko et al.Bagraev, Nikolaj Tajmurazovič, Автор1990Наличие: Экземпляры доступные для заказа: РНБ (Московский)Шифр хранения: Т95 Д-4/305 (1).

2.
3.
КнигаFractal diffusion in silicon / N. T. Bagraev, L. E. Klyachkin, V. L. SukhanovBagraev, Nikolaj Tajmurazovič, АвторKljačkin, Leonid Efimovič, Автор ;
Suchanov, Vladislav Liver'evič, Автор
1991Наличие: Экземпляры доступные для заказа: РНБ (Московский)Шифр хранения: Т95 Д-4/304 (1).

Страницы