000 01817nam0a2200361 4500
001 RU\NLR\bibl\480039
005 20250623192436.0
021 _aRU
_b2003-62037
_93042
035 _a(NLR Aleph) 000472976
090 _a1005415
_c1005415
100 _a20040115d2003 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa |||||||||
200 1 _aРасчет тормозного излучения в электронной литографии, его влияние на работу МОП-транзисторов и оценка вклада тормозного излучения в поглощенную энергию в резисте
_fСилаков М.В., Бабушкин Г.А., Валиев К.А. и др.
210 _aМ.
_cМАКС Пресс
_d2003
215 _a40 с.
_cил.
_d21
225 1 _aПрепринт
_fФиз.-технол. ин-т Рос. акад. наук
_vN 25
313 _aтормозное рентгеновское изл.
320 _aБиблиогр.: с. 37-40 (34 назв.)
606 0 _aМОП-приборы
_xПроизводство
_xПрименение электронной литографии
_92316655
_3RU\NLR\auth\661386155
606 0 _aМОП-приборы
_xЭлектронные процессы
_91630315
_3RU\NLR\auth\66720079
606 0 _aРезисты
_xФизические свойства
_xВлияние тормозного рентгеновского излучения
_92316659
_3RU\NLR\auth\661386158
686 _aЗ852.39-06
686 _aЗ844.15-040.7-01
701 1 _aСилаков
_bМ. В.
_4070
701 1 _aБабушкин
_bВ. А.
_4070
701 1 _aВалиев
_bК. А.
_4070
801 0 _aRU
_bNLR
_c20040115
_gPSBO
801 1 _aRU
_bNLR
_c20040115
942 _cBOOK
980 _aNB