000 01672nam0a2200385 4500
001 RU\NLR\BIBL_A\010304845
005 20250614031911.0
010 _a978-5-91978-017-5
_9300
021 _aRU
_b2014-9573
_9600
035 _a(NILC)RuMoRGB-006747558
035 _a(NLR Aleph) 010304845
090 _a10611612
_c10611612
100 _a20140410d2013 |||y0rusy50 ca
101 0 _aeng
102 _aRU
105 _aa z 000yy
200 1 _aAccelerated simulation of thermal and mechanical reliability of electronic devices and circuits
_fProf. Alexander Shalumov, Ph.D. Evgeny Pershin
210 _aMoscow
_c[s.n.]
_d2013
215 _a126, [2] с.
_cил.
_d22
320 _aБиблиогр.: с. 118 (12 назв.)
606 1 _aЭлектронные приборы
_xТепловой расчет
_91985125
_3RU\NLR\AUTH\661196737
606 1 _aЭлектронные приборы
_xНадежность
_xРасчет
_92100617
_3RU\NLR\AUTH\661574079
606 1 _aАСОНИКА, система автоматизированного проектирования радиоэлектронной аппаратуры
_92490099
_3RU\NLR\AUTH\661477583
675 _a621.38:519.8(082)
686 1 _aЗ85-021.1
686 1 _aЗ85-028.3
700 1 _aŠalumov
_bA. S.
_gAleksandr Slavovič
701 1 _aPeršin
_bE.
_gEvgenij
801 0 _aRU
_bRuMoRKP
_c20140227
_gRCR
801 2 _aRU
_bРГБ
_c20140327
_grcr
830 _aМоделирование тепловой и механической надежности электронных устройств и схем.
942 _cBOOK
980 _aNB