000 01667nam0a22003371 4500
001 RU\INFOCOMM_317\NLR\5000032070
005 20250614081056.0
035 _a(NLR Aleph) 010626780
090 _a10621883
_c10621883
100 _a20130328d1987 |||y0rusy50 ca
101 0 _aeng
102 _aRU
105 _ay z||||
200 1 _aExperimental study of electric field influence of low-temperature long-time relaxation in crystalline ferroelectrics
_fS. Sahling, M. Koláč, A. Sahling
210 _aДубна
_cОбъед. ин-т ядер. исслед.
_d1987
215 _a19 с.
_cграф.
_d22 см
225 1 _aОбъединенный институт ядерных исследований, Дубна
_vE8-87-499
300 _aНа 3-й с. обл.: Экспериментальное изучение влияния электрического поля на низкотемпературную медленную релаксацию в кристаллических сегнетоэлектриках / Салинг С., Колач М., Салинг А.
300 _aРез. на рус. яз.
300 _a"Submitted to "J. of low temp. phys.""
320 _aБиблиогр.: с. 17-19
606 0 _aСегнетоэлектрики
_xКристаллы
_xРелаксация при низких температурах
_xВлияние электрического поля
_2nlr_sh1
686 _aВ379-331.7
_2rubbk
700 1 _aSahling
_bS.
701 1 _aKoláč
_bM.
701 1 _aSahling
_bA.
801 1 _aRU
_bInfocomm
_c20130328
801 0 _aRU
_bINFOCOMM
_gPSBO
852 _aNLR
_jФз01 Д-6/522
942 _cBOOK
980 _aNB