000 01255nam0a2200313 i 4500
001 RU\NLR\BIBL_A\011120339
005 20240921103259.0
021 _aRU
_b2016-31679
_92037
035 _a(NLR Aleph) 011120339
090 _a11517470
_c11517470
100 _a20160510d2016 k y0rusy50 ca
101 0 _arus
_deng
102 _aRU
105 _aa|||z|||000yy
200 1 _aО тестах замыкания для контактных схем
_fК. А. Попков
210 _aМосква
_cИПМ РАН
_d2016
215 _a19, [1] с.
_cил.
_d21
225 1 _aПрепринт
_fИн-т прикл. математики им. М. В. Келдыша Рос. акад. наук
_v№ 14 за 2016 г.
_x2071-2898
225 1 _aПрепринты ИПМ им. М.В. Келдыша
_dKeldysh Institute preprints
_zeng
300 _aРез. на англ. яз.
320 _aБиблиогр.: с. 19 (10 назв.)
606 1 _aЛогические устройства
_xТестирование
_92470548
_3RU\NLR\AUTH\661467364
675 _a510
686 1 _aЗ973.2-077
700 1 _aПопков
_bК. А.
_gКирилл Андреевич
942 _cBOOK
980 _aNBR