000 02379nam0a2200433 4500
001 RU\NLR\BIBL_A\011447300
005 20260408073632.0
021 _aRU
_b2017-39096
_92852
029 1 0 _aRU
_b57439-2017
_cГОСТ Р
035 _a(RuMoRGB)008896525
035 _a(NLR Aleph) 011447300
090 _a11734442
_c11734442
100 _a20170801d2017 k y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa l 000|y
200 1 _aПриборы полупроводниковые
_eОсновные размеры
_dSemiconductor devices. Basic dimensions
_zeng
_eГОСТ Р 57439-2017
_fразработан Российским научно-исследовательским институтом "Электронстандарт" (АО "РНИИ "Электронстандарт"), Центральным конструкторским бюро "Дейтон" (АО "ЦКБ "Дейтон")
205 _aИзд. офиц.
210 _aМосква
_cСтандартинформ
_d2017
215 _aIII, 156 c.
_cил.
_d29
225 1 _aНациональный стандарт Российской Федерации
_fФедеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
239 _aВвед. 01.08.2017
510 1 _aSemiconductor devices. Basic dimensions
_zeng
517 1 _aГОСТ Р 57439-2017
606 1 _aПолупроводниковые приборы
_jСтандарты
_xКорпуса
_xРазмеры
_92334858
_3RU\NLR\AUTH\6601619931
610 0 _aприборы полупроводниковые
610 0 _aкорпуса
610 0 _aосновные размеры
675 _a621.382.82:006.354
686 _a31.080.01
_v2000
_2ОКС
686 1 _aЗ852-04я861
712 0 2 _4900
_a"Электронстандарт", российский НИИ
_cСанкт-Петербург
_3RU\NLR\AUTH\884502
_9280518
712 0 2 _4900
_a"Дейтон", центральное КБ
_cМосква
_3RU\NLR\AUTH\8810033891
_9566249
712 0 1 _4725
_aРоссийская Федерация
_bФедеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
_3RU\NLR\AUTH\8810064304
_9630205
942 _cBOOK
980 _aNBR