000			02883nam2a2200349 4500
001			RU\NLR\BIBL_A\011828674
005			20181029151021.0
010			_a978-5-94627-159-2 _bвып.2 _9175
021			_aRU _bКН-П-18-070217 _9КН-П-18-5045
035			_a(NLR Aleph) 011828674
035			_a(RuMoRGB)009748877
090			_a11999785 _c11999785
100			_a20181019d2018 k y0rusy50 ca
101	0		_arus _aeng _deng
102			_aRU
105			_aa|||z|||101zy
200	1		_a[Верификация и тестирование _aПроектирование цифровых функциональных блоков СБИС и подсистем СБИС]
210			_d2018
215			_aXI, 187 с. _cил., табл., цв. ил.
300			_aЧасть текста на англ. яз.
320			_aБиблиогр. в конце ст.
320			_aИмен. указ. авт. ст.: с. 185-186
461		0	_1001RU\NLR\BIBL_A\011828642 _12001#$aПроблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2018$e[(МЭС-2018)]$eVIII Всероссийская научно-техническая конференция, [1-5 октября 2018 года]$eсборник трудов$f[Федеральное государственное бюджетное учреждение науки, Институт проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук$gпод общей редакцией академика РАН А.Л. Стемпковского]$vВып. 2 _911999637 _cМосква _d2018 _f[Федеральное государственное бюджетное учреждение науки, Институт проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук _nМанускрипт _o[(МЭС-2018)] : VIII Всероссийская научно-техническая конференция, [1-5 октября 2018 года] : сборник трудов _tПроблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2018 _y9785946271578 _vВып. 2
606	1		_aЦифровые сверхбольшие интегральные схемы _jСъезды, совещания и т.п _xТехническая диагностика _92528737 _3RU\NLR\AUTH\661497954
606	1		_aЦифровые сверхбольшие интегральные схемы _jСъезды, совещания и т.п _xПроектирование _92385074 _3RU\NLR\AUTH\6601643497
686	1		_aЗ844.15-082.051я431(2)
686	1		_aЗ844.15-02я431(2)
942			_cBOOK
980			_aNBR
980			_aNB