000 01596nam0a2200337 4500
001 RU\NLR\bibl\1796450
005 20250616144813.0
010 _a978-5-98222-323-4
_91000
021 _aRU
_b2011-52231
_93723
035 _a(NLR Aleph) 001787134
090 _a1734171
_c1734171
100 _a20110809d2008 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa |||||||||
200 1 _aЭкспериментальное моделирование контактов силицид металла - полупроводник
_eмонография
_fИ.Н. Корнфельд
_gВоронеж. ин-т высоких технологий, Рос. новый ун-т (Воронеж. фил.)
210 _aВоронеж
_cНаучная книга
_d2008
215 _a87 с.
_cил.
_d21
320 _aБиблиогр.: с. 84-87 (54 назв.)
606 1 _aПолупроводниковые приборы
_xКонтакты
_xФизико-химические процессы
_92342727
_3RU\NLR\auth\661400216
606 1 _aСилициды металлов-полупроводник, система
_92119930
_3RU\NLR\auth\661583879
606 1 _aСверхбольшие интегральные схемы
_xПодложки кремниевые
_92482227
_3RU\NLR\auth\661473421
686 _aЗ844.15-03
686 _aЗ852-049.7-01
700 1 _aКорнфельд
_bИ. Н.
_gИосиф Николаевич
_4070
801 0 _aRU
_bNLR
_c20110809
_gRCR
801 1 _aRU
_bNLR
_c20110809
830 _aАвт. по кн.
942 _cBOOK
980 _aNB