000 01308nam2a22002771 4500
001 RU\NLR\INFOCOMM29\5000104094
005 20050203110351.2
035 _a(NLR Aleph) 002726584
090 _a1922682
_c1922682
100 _a20050203d1981 |||y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _ay ||||000|y
200 1 _aБесконтактные методы контроля толщины и неплоскосности полупроводниковых слоев
_fО.Н. Пономаренко
210 _d1981
225 1 _a...
_vВып.323
_i...
_v1981, Вып.4
461 0 _1001RU\NLR\INFOCOMM29\5000103559
_12001#$aТематические указатели литературы$fМ-во электронной пром-сти СССР. Ин-т "Электроника"$vВып.323
462 0 _1001RU\NLR\INFOCOMM29\5000103996
_12001#$aТематические указатели литературы$iСерия: Микроэлектроника$fМ-во электронной пром-сти СССР. Ин-т "Электроника" ...$v1981, Вып.4
700 1 _aПономаренко
_bО. Н.
_4070
801 0 _aRU
_bNLR
_gPSBO
801 1 _aRU
_bInfoComm
_c20050203
852 _aNLR
_bС
_jП-1/303
942 _cISSUE
980 _aNB
980 _aRUSPER