000 01838nam0a2200409 4500
001 RU\NLR\bibl\1843734
005 20250616173140.0
010 _a978-5-94836-291-5
_93000
021 _aRU
_b2011-91456
_96544
035 _a(NLR Aleph) 001834179
090 _a2181191
_c2181191
100 _a20111206d2011 |||y0rusy50 ca
101 1 _arus
_ceng
102 _aRU
105 _aa |||||||||
200 1 _aПросвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов
_e[учебник]
_fБ. Фульц, Дж.М. Хау
_gпер. с англ. [3-го изд.] В.И. Даниленко
_gпод ред. А.В. Мохова
210 _aМосква
_cТехносфера
_d2011
215 _a903 с.
_cил.
_d25
225 1 _aМир физики и техники
_v2, 23
300 _aНа 4-й с. обл. авт.: Б. фульц проф. Калифорн. технол. ин-та, Д.М. Хау проф. ун-та Вирджинии
320 _aБиблиогр.: с. 805-820
320 _aПредм. указ.: с. 883-903
606 1 _aДифрактометрия
_jУчебники
_91000140
_3RU\NLR\auth\66379135
606 1 _aЭлектронная микроскопия просвечивающая
_jУчебники
_92000536
_3RU\NLR\auth\661204395
606 1 _aРентгеновская спектроскопия
_jУчебники
_92388573
_3RU\NLR\auth\661424619
686 _aВ338.48я7
686 _aЖ3-1с383я7
686 _aВ371.213.4я7
700 1 _aФульц
_bБ.
_f1982-
_gБрент
_4070
701 1 _aХау
_bДж. М.
_f1985-
_gДжеймс М.
_4070
801 0 _aRU
_bNLR
_c20111206
_gRCR
801 1 _aRU
_bNLR
_c20111206
830 _aавт. по кн.
942 _cBOOK
980 _aNB
980 _aNBR