000 01154nam0a2200289 4500
001 RU\NLR\b_ik\93468
005 20250616224824.0
010 _a91-7373-458-6
035 _a(NLR Aleph) 002167489
090 _a2608931
_c2608931
100 _a20021219d2002 |||y0rusy50 ca
101 0 _aeng
102 _aRU
105 _aa |||||||||
200 1 _aEngineering of metal microstructures
_eProcess-microstructure-property relationships for electrodeposits
_e[A diss.]
_fJens A.D. Jensen
210 _aLinköping
_cLinköpings univ. Dep. of physics a. measurement technology. Thin film physics div.
_d2002
215 _aVIII, 164 с.
_cил.
_d24
225 1 _aLinöping studies in science and technology
_iDissertation
_x0345-7524
_vN 784
320 _aБиблиогр.: с. 161-164 и в конце разд.
330 _aЭлектроосаждение металлов
606 0 _aМеталлы
_xЭлектроосаждение
_91570161
_3RU\NLR\AUTH\66687921
686 1 _aК663.054.1
700 1 _aJensen
_bJ. J. D.
_gJens J. D.
_4070
801 0 _aRU
_bNLR
_c20021219
_gPSBO
942 _cBOOK
980 _aNB